Rouzeyre, B.: шукати на сайті Z-Library

Jean Da Rolt, Amitabh Das, Santosh Ghosh, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre, Ingrid Verbauwhede

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 893 KB

english, 2012

Scan attacks on side-channel and fault attack resistant public-key implementations

Журнал:

Journal of Cryptographic Engineering

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 663 KB

english, 2012

[IEEE Design, Automation and Test in Europe - Munich, Germany (07-11 March 2005)] Design, Automation and Test in Europe - Mutation Sampling Technique for the Generation of Structural Test Data

Scholive, M., Beroulle, V., Robach, C., Flottes, M.L., Rouzeyre, B.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 93 KB

english, 2005

Sensitivity tuning of a bulk built-in current sensor for optimal transient-fault detection

Dutertre, J.M., Possamai Bastos, R., Potin, O., Flottes, M.L., Rouzeyre, B., Di Natale, G.

Журнал:

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.38 MB

english, 2013

Improving the ability of Bulk Built-In Current Sensors to detect Single Event Effects by using triple-well CMOS

Dutertre, J.M., Possamai Bastos, R., Potin, O., Flottes, M.L., Rouzeyre, B., Di Natale, G., Sarafianos, A.

Журнал:

Fkih, Yassine, Vivet, Pascal, Rouzeyre, Bruno, Flottes, Marie-lise, Di Natale, Giorgio

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 768 KB

english, 2014

[IEEE 2013 9th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME) - Villach, Austria (2013.06.24-2013.06.27)] Proceedings of the 2013 9th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME) - A JTAG based 3D DfT architecture using automatic die detection

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 238 KB

english, 2013

[IEEE Systems (DDECS) - Cottbus, Germany (2011.04.13-2011.04.15)] 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - Power consumption traces realignment to improve differential power analysis

Natale, G. Di, Flottes, M.L., Rouzeyre, B., Valka, M., Real, D.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 701 KB

english, 2011

[IEEE 2013 IEEE 19th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - Chania (2013.7.8-2013.7.10)] 2013 IEEE 19th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - A smart test controller for scan chains in secure circuits

Da Rolt, Jean, Di Natale, Giorgio, Flottes, Marie-Lise, Rouzeyre, Bruno

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 133 KB

english, 2013

)→

Bretagnon, T., Bastide, G., Rouzeyre, M.

Журнал:

Physical Review B

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 516 KB

english, 1990

in p -type InP: A charge-controlled bistable model

Bretagnon, T., Bastide, G., Rouzeyre, M.

Журнал:

Physical Review B

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 321 KB

english, 1989

Thermal Transformation of the Electron-Irradiation-Induced Defect H4 in p Type InP

Bretagnon, Th., Bastide, G., Rouzeyre, M.

Журнал:

Materials Science Forum

Рік:

1986

Файл:

PDF, 350 KB

1986

[Presses Polytech. Univ. Romandes ISCAS 2000 Geneva. 2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Emerging Technologies for the 21st Century. Proceedings - Geneva, Switzerland (28-31 May 2000)] 2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Emerging Technologies for the 21st Century. Proceedings (IEEE Cat No.00CH36353) - A controller resynthesis based method for improving datapath testability

Flottes, M.L., Rouzeyre, B., Volpe, L.

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 293 KB

english, 2000

[IEEE 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS) - Limassol, Cyprus (2017.5.22-2017.5.26)] 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS) - Scan chain encryption for the test, diagnosis and debug of secure circuits

Da Silva, Mathieu, Flottes, Marie-lise, Di Natale, Giorgio, Rouzeyre, Bruno, Prinetto, Paolo, Restifo, Marco

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 647 KB

english, 2017

Preventing Scan Attacks on Secure Circuits Through Scan Chain Encryption

Da Silva, Mathieu, Flottes, Marie-Lise, Di Natale, Giorgio, Rouzeyre, Bruno

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.21 MB

english, 2018

Assessing body built-in current sensors for detection of multiple transient faults

Viera, R.A.C., Dutertre, J.-M., Flottes, M.-L., Potin, O., Natale, G. Di, Rouzeyre, B., Bastos, R. Possamai

Журнал:

Da Silva, Mathieu, Valea, Emanuele, Flottes, Marie-Lise, Dupuis, Sophie, Di Natale, Giorgio, Rouzeyre, Bruno

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.96 MB

english, 2018

[IEEE 2018 IEEE 3rd International Verification and Security Workshop (IVSW) - Costa Brava, Spain (2018.7.2-2018.7.4)] 2018 IEEE 3rd International Verification and Security Workshop (IVSW) - A New Secure Stream Cipher for Scan Chain Encryption

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 232 KB

english, 2018

A Survey on Security Threats and Countermeasures in IEEE Test Standards

Valea, Emanuele, Da Silva, Mathieu, Di Natale, Giorgio, Flottes, Marie-Lise, Rouzeyre, Bruno

Журнал:

IEEE Design and Test

Рік:

2019

Файл:

PDF, 1.04 MB

2019

[IEEE 2019 IEEE 4th International Verification and Security Workshop (IVSW) - Rhodes Island, Greece (2019.7.1-2019.7.3)] 2019 IEEE 4th International Verification and Security Workshop (IVSW) - A Comprehensive Approach to a Trusted Test Infrastructure

Merandat, Marc, Reynaud, Vincent, Valea, Emanuele, Quevremont, Jerome, Valette, Nicolas, Maistri, Paolo, Leveugle, Regis, Flottes, Marie-Lise, Dupuis, Sophie, Rouzeyre, Bruno, Di Natale, Giorgio

Рік:

2019

Файл:

PDF, 664 KB

2019

[IEEE 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) - Napoli, Italy (2020.7.13-2020.7.15)] 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) - A Secure Scan Controller for Protecting Logic Locking

Nguyen, Quang-Linh, Valea, Emanuele, Flottes, Marie-Lise, Dupuis, Sophie, Rouzeyre, Bruno

Рік:

2020

Файл:

PDF, 346 KB

2020

[IEEE 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) - Napoli, Italy (2020.7.13-2020.7.15)] 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) - Development and Application of Embedded Test Instruments to Digital, Analog/RFs and Secure ICs

Azais, F., Bernard, S., Comte, M., Deveautour, B., Dupuis, S., Badawi, H. El, Flottes, M.-L., Girard, P., Kerzerho, V., Latorre, L., Lefevre, F., Rouzeyre, B., Valea, E., Vayssadel, T., Virazel, A.

Рік:

2020

Файл:

PDF, 536 KB

2020

Effect of a deep electron trap with strong lattice relaxation and of interface states on the C-2=ƒ(V) characteristics of Au-CdS Schottky diodes

M. Housin, M. Fialin, G. Bastide, G. Sagnes, M. Rouzeyre

Журнал:

Journal of Crystal Growth

Рік:

1982

Мова:

english

Файл:

PDF, 435 KB

english, 1982

Electro magneto reflexion du germanium a 1,5°K

M Rouzeyre, H Mathieu, D Auvergne, J Camassel

Журнал:

Рік:

1969

Мова:

french

Файл:

PDF, 262 KB

french, 1969

Depth penetration of the transverse surface wave in photoconducting CdS

M. Rouzeyre, G. Cambon

Журнал:

Рік:

1972

Мова:

english

Файл:

PDF, 183 KB

english, 1972

Optical properties of electron irradiation induced defects in InP

D. Bayaa, G. Bastide, M. Rouzeyre, A. Sibille

Журнал:

Рік:

1984

Мова:

english

Файл:

PDF, 251 KB

english, 1984

Lattice coupling strength of electron-induced-irradiated defects in InP

G. Bastide, D. Bayaa, M. Rouzeyre

Журнал:

Рік:

1986

Мова:

english

Файл:

PDF, 394 KB

english, 1986

Localized defects in p-CdTe:Cu doped by copper incorporation during Bridgman growth

J.P. Laurenti, G. Bastide, M. Rouzeyre, R. Triboulet

Журнал:

Journal of Physics and Chemistry of Solids

Рік:

1988

Мова:

english

Файл:

PDF, 366 KB

english, 1988

Migration des ions dans l'oxyde de structures MIS (AlAl2O3Si)

B. Pistoulet, M. Rouzeyre, D. Auvergne

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

1969

Файл:

PDF, 581 KB

1969

Physical properties of the deep X electron trap responsible for long time persistent photocapacitance in CdS

Malik Housin, Michel Fialin, Georges Sagnes, Gérard Bastide, M. Rouzeyre

Журнал:

Physica B+C

Рік:

1983

Мова:

english

Файл:

PDF, 269 KB

english, 1983

Multisaturation process in photoconducting CdS

J. Attal, M. Rouzeyre

Журнал:

Рік:

1973

Мова:

english

Файл:

PDF, 756 KB

english, 1973

Photoluminescence and Optical Properties of Lithium-Doped Mgx Zn1−x Te Alloys

S. Demian, F. El Akkad, B. Farag, H. Mathieu, M. Rouzeyre, J. Chevallier

Журнал:

physica status solidi (a)

Рік:

1984

Мова:

english

Файл:

PDF, 436 KB

english, 1984

Sur le mode de fonctionnement des transistors à interface métal-semiconducteur

B. Pistoulet, M. Rouzeyre

Журнал:

physica status solidi (b)

Рік:

1965

Файл:

PDF, 678 KB

1965

Contribution á l'étude des phénomènes de transport dans les structures aluminium–alumine–métal

M. Rouzeyre

Журнал:

physica status solidi (b)

Рік:

1967

Файл:

PDF, 654 KB

1967

Securing Scan Control in Crypto Chips

David Hély, Frédéric Bancel, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 210 KB

english, 2007

A Reliable Architecture for Parallel Implementations of the Advanced Encryption Standard

G. Di Natale, M. Doulcier, M. L. Flottes, B. Rouzeyre

Журнал:

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 435 KB

english, 2009

Thermal ionisation and photoionisation properties of deep traps in n type CdTe

F. Debbag, G. Bastide, M. Rouzeyre

Журнал:

Integration, the VLSI Journal

Рік:

1988

Мова:

english

Файл:

PDF, 414 KB

english, 1988

Operators allocation in the silicon compiler SCOOP

B. Rouzeyre, T. Ezzedine, G. Sagnes

Журнал:

Рік:

1989

Мова:

english

Файл:

PDF, 555 KB

english, 1989

Improving Testability of Non-Scan Designs during Behavioral Synthesis

M.L. Flottes, D. Hammad, B. Rouzeyre

Журнал:

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 158 KB

english, 1997

BISTing Datapaths under Heterogeneous Test Schemes

D. Berthelot, M.L. Flottes, B. Rouzeyre

Журнал:

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 149 KB

english, 1999

A Method for Trading off Test Time, Area and Fault Coverage in Datapath BIST Synthesis

D. Berthelot, M.L. Flottes, B. Rouzeyre

Журнал: